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飞行时间二次离子质谱仪 (TOF-SIMS)

飞行时间二次离子质谱仪 (TOF-SIMS)

  • 仪器型号iONTOF TOF SIMS 5
  • 测试周期3-7个工作日
  • 已测试样品0个

样品要求

1. 制样说明

(1)薄膜、片状、块体:长×宽尺寸约10 mm × 10 mm~12 mm × 12 mm,厚度不大于5mm;

(2)粉末样品最好压片后送样。压片时使用清洁的铝箔包裹粉末样品,以避免在加压过程样品表面被污染,压片后的尺寸要求见(1)条。

 

2. 样品要求

(1)尽量保持样品上下表面平整(尤其待测面,越平整越好);

(2)通过溶液涂膜方法制备薄膜样品时,最好使用表面平整的导体或半导体作为衬底,例如:Si片, 镀金的Si片,或银片等。

(3)易被氧化或易吸水样品,在送样过程中应注意隔离空气(如放保干器, 或高纯Ar气袋 )

(4)最好用带盖的玻璃小试管、小容量瓶等容器装样;最好不要直接使用塑料容器、塑料袋、含硅的胶带或胶面和纸袋,以免硅树脂或纤维污染样品表面。

(5)对薄膜、片状、块体样品标记出测试面;千万注意:不能使用墨水笔在样品上标记测试面,以免墨水中的有机试剂污染待测样品表面

(6)如果样品有易变性(如被氧化,吸附等),易熔化等情况请请在测试单中说明。

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