球差校正透射电子显微镜 (ACTEM)

1. 块体用FIB制样，厚度30nm左右；粉末提供10mg左右；

2. 纳米颗粒或者纳米片建议用微栅或者超薄碳膜制样；

3. 含磁性元素的样品必须提供粉末用于验证磁性。