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聚焦离子束扫描电镜 (FIB-SEM)

聚焦离子束扫描电镜 (FIB-SEM)

仪器型号FEI Strata 400S Thermo Helios 5 CX 蔡司 Crossbeam 350 等
测试周期3-7个工作日
已测试样品0个

样品要求

1. 块体用FIB制样，厚度50nm左右；粉末提供10mg左右；

2. 纳米颗粒或者纳米片建议用微栅或者超薄碳膜制样；

3. 含磁性元素的样品必须提供粉末用于验证磁性。

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