解仪器难题,助科研高效

透射电子显微镜(TEM)

透射电子显微镜(TEM)

  • 仪器型号FEI TALOS-F200X 日本电子 JEM-2100F
  • 测试周期5-7个工作日
  • 已测试样品5个

样品要求

制样说明
粉体、液体、可测试,薄膜或块状样品不能直接拍摄,需另行制样(如离子减薄、包埋切片、FIB等)
样品的厚度不超过100nm;
一般制样选普通铜网或微栅铜网即可,如果颗粒直径小于10nm用超薄碳膜制样;若样品含Cu,需要拍EDS能谱和mapping可选镍网或者钼网等
常用溶剂是乙醇,其次是水(易挥发,不会在碳膜上留下痕迹),其他溶剂(如甲苯、丙酮等,如需要请自备溶剂),较易在碳膜上留下印迹。
超声一般默认是5min,如有特殊要求请提前说明
样品要求
仅针对材料类样品,生物等样品另外说明。要求样品无毒、无放射性、干燥无污染、热稳定性好、耐电子束轰击。
是否含有有机物。有机物在高压下不稳定,拍摄过程中极易被打散,样品被打散的同时会污染到仪器,如需拍摄,请务必与工作人员确认。带有机物的样品,无法拍摄mapping。
样品是否有磁性。磁性颗粒,易吸附到极靴上,原则上电镜(TEM)不拍磁性样品。根据不同老师的经验,对所拍样品中磁性强弱的接受度不同,所以请大家务必如实填写样品是否含磁及磁性的强弱。

透明比价

透明消费更安心

科研测试

科研测试不费心

采购助手

精明采购好参谋

正品保证

匠心品质可放心